簡要描述：薄膜表面檢測儀主要用于檢測薄膜在生產過程中表面出現(xiàn)的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統(tǒng)，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質量控制、產品評級提供真是準確數(shù)據(jù)的同時，有效的節(jié)約了生產成本、提高了產品質量。
產品型號：JR-CHY廠商性質：生產廠家更新時間：2024-10-09訪 問 量：1694項目背景
薄膜作為包裝材料的主要形式，已經成為工業(yè)產品*的原材料。在薄膜的生產過程中，由于生產工藝及現(xiàn)場環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產的根源，實現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質量，一直是薄膜企業(yè)追求的目標。
現(xiàn)代工業(yè)生產對薄膜表面的質量提出越來越高的要求，傳統(tǒng)的檢測方法如人工目視抽檢已經遠遠不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求，基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠。準確的優(yōu)點，目前已被許多薄膜企業(yè)所應用。
工作原理
生產線正常生產時，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產線表面（對于不透明的薄膜產品采用反射的檢測原理），架設在生產線上的線陣相機進行實時同步掃描，同時系統(tǒng)將相機采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進行瑕疵分割處理。
由于瑕疵圖像的灰階與正常產品的灰階存在明顯差異，從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，同時對瑕疵進行有效的判定、分類。
技術介紹
【薄膜表面檢測系統(tǒng)】主要用于檢測薄膜在生產過程中表面出現(xiàn)的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統(tǒng)，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質量控制、產品評級提供真是準確數(shù)據(jù)的同時，有效的節(jié)約了生產成本、提高了產品質量。
檢測對象 | 保護膜、涂布膜、光學膜、鋰電隔膜、食品包裝膜 |
檢測幅寬 | 任意幅寬（根據(jù)生產線寬度進行定制） |
檢測速度 | MAX：600m/min |
檢測精度 | 0.1mm*0.1mm |
缺陷類型 | 晶點、線條、黑點、蚊蟲、孔洞、劃傷等常見缺陷 |
測寬精度 | 產線無縱向偏移時誤差≤3mm |
缺陷標識 | 自動聲光報警，同時在系統(tǒng)界面顯示當前缺陷的具體圖像及信息 |
歷史記錄 | 記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息 |
常見瑕疵圖片
